渦流涂層測厚技術的基本原理和標準

來源:林上科技   發(fā)布時間:2020/05/29 08:40  瀏覽:7481
本文主要講述了渦流涂層測厚技術的基本原理及方法標準概況,希望能夠幫到您。

一、渦流涂層測厚技術的基本原理

渦流涂層測厚儀是高新技術的結晶,采用單片機技術,精度高、數(shù)字顯示、功耗低、操作簡便、無需校準、體積小、重量輕;且具備存儲、低電壓提示等特點。渦流涂層測厚儀廣泛用于機械、汽車、造船、石油、化工、電鍍、噴塑、搪瓷、塑料等行業(yè)。

渦流涂層測厚儀的基本工作原理是:采用了電渦流原理,在測頭內的線圈鐵芯通電后可以發(fā)生高頻磁場,經過測頭與被測涂層的金屬基材接觸發(fā)生的渦流大小來反映測頭與基材之間的間隔大小,測頭離金屬基材越近,渦流越大,越遠則渦流越小,基于這樣的原理可以找出渦流大小與間隔大小之間的比例關系,從而求出間隔大小,也就是涂層的厚度。

二、渦流涂層測厚方法標準概況

在國家標準GB/T4957-85《非磁性金屬基體上非導電覆蓋層厚度測量渦流方法》(等效采用國際標準ISO 2360-1982)中,對渦流涂層測厚儀的標準、操作和影響測量精度的因素及其注意事項作了詳細地闡述。其中有關影響測量精度的因素主要包括:

1.覆蓋層厚度大于25μm時,其誤差與覆蓋層厚度近似成正比。

2.基體金屬的電導率對測量有影響,它與基體金屬材料成分及熱處理方法有關。

3.渦流涂層測厚儀對試樣測定存在邊緣效應,即對靠近試樣邊緣或內轉角處的測量是不可靠的。

4.任何一種涂層測厚儀都要求基體金屬有一個臨界厚度,只有大于這個厚度,測量才不會受基體金屬厚度的影響。

5.試樣的曲率對測量有影響,這種影響將隨著曲率半徑的減小明顯地增大。

6.基體金屬和覆蓋層的表面粗糙度影響測量精度,粗糙程度增加,影響增大。

7.渦流涂層測厚儀對妨礙測頭與覆蓋層表面緊密接觸的附著物質敏感,因此測量前應清除測頭和覆蓋層表面的污物,涂層測厚儀測量時,應使測頭與測試表面保持恒壓垂直接觸。

采用單一渦流測厚法的儀器使用范圍不是很廣,因此市場上逐漸出現(xiàn)了同時采用兩種原理的涂層測厚儀,這種儀器同時采用了渦流測厚法和磁性測厚法,可以覆蓋渦流涂層測厚儀和磁性涂層測厚儀的測量范圍。常見的非磁性金屬為鋁,而常見的磁性金屬為鐵,因此這種雙原理的儀器就是我們說的鐵鋁兩用的涂層測厚儀。常見的鐵鋁兩用測厚儀有Qnix,TQC和林上涂層測厚儀,這些儀器的出現(xiàn)也使得涂層的厚度測量變得更加簡單,高效。

標簽: 涂層測厚儀
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